Индексировано в
  • Open J Gate
  • Журнал GenamicsSeek
  • Академические ключи
  • ЖурналTOCs
  • ИсследованияБиблия
  • Китайская национальная инфраструктура знаний (CNKI)
  • Шимаго
  • Справочник периодических изданий Ульриха
  • Библиотека электронных журналов
  • RefSeek
  • Университет Хамдарда
  • ЭБСКО АЗ
  • OCLC- WorldCat
  • Интернет-каталог SWB
  • Виртуальная биологическая библиотека (вифабио)
  • Паблоны
  • МИАР
  • Службы научного индексирования (SIS)
  • Евро Паб
  • Google Scholar
Поделиться этой страницей
Флаер журнала
Flyer image

Абстрактный

Theoretical modeling and experimental validation of Electrical conductivity for highly aligned single-walled carbon nanotube thin films

Maher S. Amer*, Mark J. Foster, Ali M. Al Mafrage and Mohammed K. Mohammed

A new model capable of accurately predicting the electrical conductivity of highly aligned single-walled carbon nanotube thin films has been developed. The films ranged between 1 and 11 layers thick. The well-established Lamination theory failed to predict the experimentally measured values for the films of different thicknesses. However, this model, based on modified and expanded techniques applied within the realm of the lamination theory, could predict the exact values taking into consideration the inter-layer interaction that is crucial for the properties and performance of nano- films.

Отказ от ответственности: Этот реферат был переведен с помощью инструментов искусственного интеллекта и еще не прошел проверку или верификацию