Абстрактный

Электрические свойства чистых и облученных электронами нитей углеродных нанотрубок в малых масштабах длины

Франциско Сола

В этом отчете влияние облучения электронным пучком на электрическое сопротивление нитей углеродных нанотрубок (УНТ) изучалось с использованием облучения электронным пучком на просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ) с последующим двухзондовым методом сопротивления в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ). Как локальное сшивание, так и аморфные области внутри нити УНТ наблюдались при увеличенной дозе электронов, как показала высокоразрешающая ПЭМ (ВРПЭМ). Нижнее граничное значение сопротивления было получено при максимальной использованной дозировке, которая была ниже сопротивления исходной нити. Данные по сопротивлению объясняются предлагаемой моделью, которая учитывает микроструктурные изменения.

Отказ от ответственности: Этот реферат был переведен с помощью инструментов искусственного интеллекта и еще не прошел проверку или верификацию